硬體規(guī)格
REED RELAY的掃描板

JET-300的掃描板採用了可耐用二億次的REED RELAY，徹底解決了ICT 掃描板容易損壞的問題, 由於REED RELAY 的應(yīng)用，使JET-300在性能上大有改善。諸如：
1.Zener diode 測試電壓可達(dá)50v，所有測試點(diǎn)皆可使用。
2.小電容和小電感量測較準(zhǔn)確和穩(wěn)定，較不受溫度的影響。
3.電容極性的可偵測率較用CMOS RELAY時(shí)大為提高。
4.可耐高壓又有殘存電壓偵測功能，掃描板受到充分的保護(hù)。
5.配置功能測試的可行性較高。

Agilent TestJet Technology

美國安捷倫公司針對SMD IC接腳開路難以完整偵測的問題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的專利授權(quán)後，已於JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測試效果。其應(yīng)用上的優(yōu)點(diǎn)如下： 1.Agilent TestJet Technology的功能是利用量測一個(gè)銅箔板與IC腳框(Frame) 之間的電容量來偵測接腳的斷路與否。此技術(shù)無需撰寫任何程式，即可做正確而迅速的測試。 2.Agilent TestJet Technology可測試各種不同包裝的IC, 如 Insertion type，PLCC type，QFP type，TAB type，PGA type (無接地者)，BGA type (OMPAC)等都可測試。 3.Agilent TestJet Technology也可用來偵測各種插座的接腳斷路，不論是Insertion type或是 SMD type皆可偵測。

寬頻而準(zhǔn)確的相位分離量測法
對於在RC或RL並聯(lián)電路中的R.L.C. 可用相位測量法，分別量出其零件值，由於信號源頻率寬廣(100Hz到1MHz)，因此可以偵測的範(fàn)圍優(yōu)於一般的ICT，像下圖線路中的零件都可以準(zhǔn)確量測。

三端點(diǎn)、四端點(diǎn)量測
JET-300可對三端點(diǎn)的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等。或四端點(diǎn)零件如 PHOTO COUPLER，做正確的測試，如有反插或零件損壞，必可測出。TRANSISTOR的β值也可量測。

電解電容極性測試
以三端點(diǎn)法偵測鋁質(zhì)電解電容極性反插，可測率100%；以測漏電流方式偵測電解電容極性反插，可測率極高。




軟體系統(tǒng)　
JET-300擁有超越一般ICT的軟體功能，無論是在測試前的程式製作支援軟體, 或是測試後的不良資訊和資料分析，都有高水準(zhǔn)的表現(xiàn)。在微軟中文視窗環(huán)境下執(zhí)行的系統(tǒng)程式，操作容易，功能強(qiáng)大。

差零件(焊點(diǎn))
系統(tǒng)可列印出不良數(shù)多的零件(前十名)和不良次數(shù)多的焊點(diǎn)( 前十點(diǎn))供廠商做品質(zhì)控制或製程改善的參考。

測試資料統(tǒng)計(jì)的日報(bào)表和月報(bào)表
圖表上半的長條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN/SHORT，零件不良率及整個(gè)測試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明瞭地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。

網(wǎng)路即時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)
如果把多臺ICT連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng) ，則每一臺ICT的測試統(tǒng)計(jì)資料都可以在網(wǎng)路上的任何一臺電腦上顯示，管理者可以很方便地隨時(shí)查看生產(chǎn)線的狀況。

網(wǎng)路錯誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把ICT 和檢修站都連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng), 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯誤訊息，包括：打印機(jī)的印出訊息和錯誤圖形顯示。

待測板圖形顯示功能
可在待測板不良發(fā)生時(shí)，明白顯示不良零件或焊點(diǎn)的位置，亦可在零件位置查詢時(shí)顯示零件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時(shí)間和程式調(diào)適的時(shí)間。如果廠內(nèi)有網(wǎng)路連線系統(tǒng)，則此圖形亦可在維修站的螢?zāi)簧巷@示出來。