面測華科電子主要為電子產品廠家提供完善的制程服務。產品包括：靜態(tài)測試儀ICT（TR-518FE，TR-518FR，JET-300NT等），動態(tài)測試儀（FCT）BGA測試治具，電腦自動化測試系統(tǒng)，SMT/DIP過爐治具等﹔提供各種ICT的維修，保養(yǎng)，培訓等技術支持﹔治具耗材：談針，軸承，牛角，排線等銷售。

自動學習、優(yōu)化和調整測試方法  自動隔離  IC 漏插及方位檢測  顯示十個多錯誤組件情況 重復測試 針號檢索功能 自我診斷功能
在掃描儀和探針閑刪除游離電容以得到準確的小電容值 提供每天或累計測試結 果電容恒壓源充電方式能提高測試速度

軟件特性: 
超強調試方式 
主要針對作進一步微調學習和測試程序， 優(yōu)化測試結果，可編改驅動電流，延遲時間及測試頻率.
操作簡易 只要經過簡易的講解，就可熟練操作，無須太多技朮知識
測試程序產生器 (ATG)(可選) 
大多數(shù)CAD文件通過FABMASTER ATG 轉換到測試程序 ，數(shù)據(jù)不會丟失，省時， 效率高. 數(shù)據(jù)轉換器 (DTG)  很多其它品牌的ICT測試程序可通過DTG轉換到T623F格式,避免重新編程及數(shù)據(jù)丟失.

硬件特性: 
可靠性測試 
直接合成數(shù)碼波形產生器（DDS）及數(shù)碼濾波技朮（DFT）提供可編程的正弦波，具有穩(wěn)定、低失真，高訊噪比，從而提高了測試的可靠性 . 
度，使用16位D/A和A/D，具備64K分解度﹔獲得高測試 .

開爾芬: 
開爾芬8線測試用以測量低電阻及電感.
反插探測 
電解電容反插檢測 
透過測量外殼的電壓或漏電電流可判別電容是否反插 . 
晶體管三點測試 . 
二極管測試 
可區(qū)別功率、訊號和齊納二極管. 
易掃描
可檢測SMT IC，BGA 與總線上IC腳的開路狀況
功能測試模塊
提供電源作功能測試，更可連接外置訊號源、儀器、示波哭作關鍵的履行測試。