- 產(chǎn)品品牌:
- Oxford
- 產(chǎn)品型號:
- CMI165
別名:表面銅厚測量儀 表面銅測厚儀 覆銅板測厚儀 銅厚測量儀 銅皮測厚儀 銅箔測厚儀
CMI165面銅測厚儀可測試高溫的PCB銅箔- 顯示單位可為mils,μm或oz- 可用于銅箔的來料檢驗- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試- 配有SRP-T1,帶有溫度補償功能的面銅測試頭- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試
SRP-T1:CMI165專用可更換探針
CMI165面銅測厚儀探頭采用由牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭,綜合運用微電阻原理及溫度補償技術(shù),使其成為世界上推出帶溫度補償功能的銅箔測厚儀的制造商。