- 測(cè)量不受基材影響,重復(fù)性和穩(wěn)定性;
- 電腦顯示監(jiān)控實(shí)時(shí)測(cè)量過(guò)程;
- 中文菜單操作界面友好;
- 實(shí)時(shí)記錄多層鎳電解電位曲線,可自動(dòng)打印測(cè)試和電解電位曲線;
- 可根據(jù)用戶要求,定制特定測(cè)厚系統(tǒng)。
產(chǎn)品規(guī)格:
測(cè)量范圍和 | 0.01μm~50μm,≤&plun;10%;合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 2177-85. |
測(cè)量對(duì)象 | 單金屬鍍層(Cu、Zn、Ni、Au、Ag、Sn、Cr等); |
| 合金鍍層(Pb-Sn、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等); |
| 復(fù)合鍍層(Cu-Ni-Cr/Fe等); |
| 雙層鎳或三層鎳; |
電源 | AC220V+10% 50HZ |