一、產(chǎn)品簡介：
品牌中的精英，精品中的！
快速、、準確；材料分析、廢料分撿、牌號識別，是Al、Mg、Si測量的理想工具。
S1 TURBOSD是世界臺配置了XFlash®硅漂移探測器(SDD)的手持X射線熒光光譜儀，檢測器能量分辨率140eV，大幅度地了分析速度和靈敏度。能夠在空氣模式下，無需真空或氦氣沖洗即可測量鋁合金中的Mg、Si，鎳合金中的Al以及鋼材中的Si、S、P。
可測量的基體：工具鋼，低合金鋼，不銹鋼，鈷合金，鎳合金，銅合金，鈦合金，鋁合金，鋯合金，鎢合金，鋅合金，鎂合金，鋯合金等
二、優(yōu)點：
- 、定量分析
- 快速、便攜、
- 能夠分析S、P、Al, Mg, Si
- 可編輯用戶數(shù)據(jù)庫
- 測量元素范圍可Mg(12)
- 微軟實時系統(tǒng)(MS CE)軟件提供圖譜分析
- 高靈敏度，可檢測PPM的微量元素
- PXRF軟件還具有定性和定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使之適用于大范圍的元素測量。
- NASA/Bruker共有-無真空－無氦氣消耗，
三、功能模塊：
定量分析、牌號識別、混料識別、合格與否判定、圖譜顯示
四、應(yīng)用領(lǐng)域：
石油化工、、航空、航天、鋼鐵、電站、電廠 、鍋爐壓力容器、機械制造與加工、金屬回收與分類、貴金屬、RoHS檢測（玩具、塑料等）、礦石、土壤、其它
五、技術(shù)規(guī)格：
重量 | 1.5kg |
尺寸 | 30cm(L)x10cm(W)x28cm(H) |
激發(fā)源 | X射線管，Ag靶，40kV |
檢測器 | XFlash®硅漂移檢測器(SDD), 檢測速度快； 能量分辨率高：145eV, 計數(shù)率：100 kcps |
操作系統(tǒng) | HP掌上電腦：Windows Mobile5.0 Bruker軟件 |
冷卻系統(tǒng) | Peltier電子冷卻系統(tǒng) |
電源 | 交、直流供電；2塊充電鋰電池，可連續(xù)工作8-12小時 |
工作條件 | 溫度范圍：-20℃～+55℃；濕度范圍：0～95% |
電池充電器 | 交流充電器：110/220V，50/60Hz |
計算機/顯示器 | 240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調(diào); 觸摸屏 |
測量模式 | 牌號識別、定量分析、顯示測量譜線、合格與否判定 |
數(shù)輸 | U，無線藍牙，SD卡 |
數(shù)據(jù)存儲 | 主機：512 存儲卡：CF/SD卡，2GB，能存儲幾十萬個牌號和測量數(shù)據(jù) |
保護，設(shè)有多級鎖 | |
運輸箱 | 減震、壓、水、密封儀器箱 |
支持語言 | 包括中、英文在內(nèi)的12種語言(用戶自選) |
質(zhì)保期 獲得證書 | 整機2年 CE、TUV、ISO9001，IECEE |
