平面平晶|環(huán)行平面平晶|平行平晶 YDF-1 歡迎致電歐卡光學(xué)儀器
一、用途：
平面平晶是用于以干涉法測(cè)量塊規(guī)，以及檢驗(yàn)塊規(guī)、量規(guī)、件密封面、測(cè)量?jī)x器及測(cè)量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。
適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計(jì)量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測(cè)。
二、主要技術(shù)規(guī)格：
1、平面平晶 YDF-1 標(biāo)準(zhǔn)外形尺寸 單位：mm
規(guī)格00 250
直徑00 250
高度 25 30 40 45
規(guī)格尺寸平面平晶,環(huán)形平面平晶,方形平面平晶可定做.
2、平面平晶制成兩種： 1級(jí) 和 2級(jí)
3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為：
直徑為 30至60mm 1級(jí)平晶 0.03μm
直徑為 30至60mm 2級(jí)平晶 0.1 μm
直徑為 80至150mm 1級(jí)平晶 0.05μm
直徑為 80至150mm 2級(jí)平晶 0.1 μm
更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)。
4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為： 0.03μm
5、平面平晶測(cè)量工作應(yīng)在室溫2 0℃&plun;3℃條件下保持?jǐn)?shù)小時(shí)后進(jìn)行。
浙江藍(lán)箭儀器有限公司
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