HCC-24（V2.0） 磁阻法測厚儀
1 概述
HCC-24磁阻法測厚儀是一種用電池供電的便攜式測量
儀器，可快速地測量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚
度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。
由于集成電路和微處理器的應(yīng)用，使本儀器具有操作簡
單、使用方便、穩(wěn)定性好、測量高的優(yōu)點(diǎn)。儀器具有
數(shù)理統(tǒng)計(jì)功能，可直接顯示測量次數(shù)、平均值、值及
小值。
本儀器采用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行測量，合國際標(biāo)準(zhǔn)
ISO2178和標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956。當(dāng)探頭與覆蓋層接觸時(shí)，探
頭和磁性基體構(gòu)成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存
在，使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。
通過對磁阻的測量，經(jīng)電腦進(jìn)行分析處理，由液晶顯示器
直接顯示出測量值。
2 技術(shù)參數(shù)
1）測量范圍：0 ～1200 um。
2）示值誤差： ((1~3)%H+1 m）H為被測涂層厚度。
3）分 辨 率：1 m。
4）小測量面的直徑： 10 mm。
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5）顯 示：4位LCD顯示測量的次數(shù)、平均值、
大值、小值，同時(shí)指示儀器的工作狀
態(tài)及電池使用情況。
6）電 源：一節(jié)6F22型9V電池。
7）外形尺寸：160 mm 80 mm 30 mm。
8）質(zhì) 量：約250g。
9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；
相對濕度不大于90%。
3 儀器外型
顯示窗
面板
主機(jī)
探頭
3
4 按鍵說明
1） 開/關(guān) ：儀器的開關(guān)鍵。
2） 統(tǒng)計(jì)R ：數(shù)理統(tǒng)計(jì)鍵，對測量結(jié)果進(jìn)行數(shù)理
統(tǒng)計(jì)，并順序顯示下述數(shù)據(jù)，即測量的次數(shù)
（N）、平均值（MEAN）、值（MAX）、
小值（MIN）。
3） 清除DEL ：從統(tǒng)計(jì)中消除當(dāng)前測量值的鍵。
4） 校正CAL ：用于校正儀器的鍵。
5） ︿ ：處在校正方式時(shí)，遞增顯示數(shù)值的鍵；在
正常測試時(shí)，用于普通模式與連續(xù)測量模式轉(zhuǎn)換。
6） ﹀ ：處在校正方式時(shí)，遞減顯示數(shù)值的鍵；在
正常測試時(shí)，用于普通模式與連續(xù)測量模式轉(zhuǎn)換。
5 儀器的基本使用方法
用本儀器進(jìn)行測試使用起來簡單：先用螺絲刀
撬開儀器背面的電池盒蓋，裝入電池。然后按 開/關(guān) 鍵
開機(jī)，儀器顯示 - - - ，2秒鐘后顯示 0 um ，儀器便
進(jìn)入測量狀態(tài)。此時(shí)，用戶只要將儀器的探頭垂直壓在被
測面上（如圖1）。注意，探頭按下時(shí)，探頭的尾部會(huì)抬
起，手不要碰到探頭的金屬部分，以免影響保持探頭內(nèi)體
自由上下活動(dòng)。保持探頭放置穩(wěn)定，儀器顯示器上會(huì)出現(xiàn)
一個(gè) 標(biāo)志，并顯示測試結(jié)果。儀器便會(huì)顯示測試結(jié)
果。如果要再測，往上提探頭使其離開被測面，然后
再按下探頭，儀器隨后就會(huì)顯示新的測試結(jié)果。如果被測
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面是弧形的，按圖2的方式，使探頭下端的三角開叉跨在被
測件上，這樣便能穩(wěn)固地放置探頭，測試結(jié)果準(zhǔn)確。
圖1 圖2
為了儀器正常工作并獲得工作狀態(tài)，請注意
以下2個(gè)使用細(xì)節(jié)：
1. 在儀器開機(jī)時(shí)，使探頭遠(yuǎn)離被測件和其它鐵磁性物體
（10cm以上），直到儀器顯示 0 um 為止。否則，儀
器會(huì)一直顯示 - - - ，進(jìn)不了測試狀態(tài)。
2. 每次測試后，盡量上提探頭，使其遠(yuǎn)離被測件，這樣會(huì)
使儀器處于良好的環(huán)境適應(yīng)狀態(tài)。
6 正式測試前的準(zhǔn)備工作
用戶購買后的新儀器在進(jìn)行實(shí)際使用前，都須要進(jìn)
行儀器的校正，這是儀器標(biāo)稱的重要，
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請務(wù)重視。
2.0版儀器有多種校正方法，使用很靈活，用戶可根據(jù)
實(shí)際需要選擇如下一種方式：
1） 全范圍高準(zhǔn)確度的傳統(tǒng)校
用戶通過隨機(jī)配備的三個(gè)不同厚度的試片和裸基體完
成校正，具體步驟如下：
步驟一
在儀器處于開機(jī)后的狀態(tài)時(shí)，按一下 校正CAL
鍵，儀器屏上會(huì)出現(xiàn) CAL ，同時(shí)會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值，該
數(shù)值如果不為 0 ，按 ﹀ 鍵，直到該數(shù)值由大到小變
到 0 為止。然后將探頭放在裸基體的測試面上進(jìn)行測試
（注意，這里的裸基體要和實(shí)際被測物的材料和形狀
相同。不要使用隨機(jī)配備的標(biāo)準(zhǔn)金屬基塊，那只能用
來驗(yàn)證儀器本身工作是否正常，不能用來校正儀器）。可
以測試幾下，待儀器上顯示的數(shù)值基本穩(wěn)定后，按一下
校正CAL 鍵，儀器的點(diǎn)便校正完畢，它會(huì)顯示一個(gè)
新的數(shù)值。
步驟二
接上一步驟，用個(gè)試片來校正?？匆幌聝x器上顯
示的數(shù)值和隨機(jī)配備薄的試片的實(shí)際厚度是否一致，該
片所標(biāo)注的實(shí)際厚度在20um左右。用 ︿ 或 ﹀ 鍵，
使儀器上顯示的數(shù)值和該試片的實(shí)際厚度值一致。然后將
該試片平放在裸基體上，探頭再壓在上面進(jìn)行測試，可以
重復(fù)幾次。待儀器顯示的測量值穩(wěn)定后，按一下 校正
CAL 鍵，個(gè)試片的校正結(jié)束，儀器又顯示下一個(gè)校正
片的厚度值。
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步驟三
用步驟二相同的方法，只是所用試片要換成厚度200um
左右的那一片。
步驟四
依然和步驟二相同，但所用的試片要換成1200um左右
的那一片。到這個(gè)步驟的后階段，按一下 校正CAL
鍵，儀器屏上還會(huì)繼續(xù)顯示一個(gè)校正片的厚度值，如
1999 ，不用再做下去了，再按一下 校正CAL 鍵，
校正便結(jié)束了。這時(shí)的儀器便可以進(jìn)行高準(zhǔn)確度的實(shí)
際測量了。
在以后使用時(shí)，如果有要，可以再次做上面四個(gè)步
驟的校正。儀器會(huì)記住了上次的點(diǎn)和每個(gè)試片的厚度
值，這樣就可以根據(jù)儀器提示，不用再修正試片厚度值，
便能輕松完成各個(gè)步驟。
2） 上下限校
在大多數(shù)情況下，用戶使用本儀器測試的對象有
的共性，如材料和形狀相同，涂層厚度也局限在某個(gè)范圍
內(nèi)，此時(shí)用戶關(guān)心的也許是被測對象的涂層是否差。如
果這些條件成立，那么就沒有要使用上面多步驟的傳統(tǒng)
校，而要運(yùn)用上下限校正便能很好地完成使命。
本方法要兩個(gè)步驟校正兩點(diǎn)，當(dāng)然，這兩點(diǎn)
直接選用用戶被測件涂層允許范圍中的小和厚度。
這樣校正的結(jié)果，儀器在這兩個(gè)校正點(diǎn)上的高，
甚至比上面?zhèn)鹘y(tǒng)的校正還要好。要實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，用戶先
要設(shè)法獲得合這兩個(gè)校正點(diǎn)厚度的試片，可以向本公司
提出購買試片的要求，也可以自行尋找合條件的樣
片。