產(chǎn)品說明
日本三豐表面粗糙度測量儀SV-3100是否提供加工定制 否 類型 表面粗糙度儀 品牌 三豐 型號 SV-3100H4 測量范圍 0-200MM 測量參數(shù) Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,Rt, Rti, R3 取樣長度 0-200（mm） 評定長度 0-200（mm） 掃描長度 0-200（mm） 電源 220 重量 140（kg） 外型尺寸 766 x 482 x 1166mm（mm）
三豐表面粗糙度測量儀
特點：
SV-3100系列產(chǎn)品可進行高、高水平分析，多功能3D表面粗糙度分析，微細輪廓測量，以及原有的表面粗糙度測量。
?自動調(diào)水平工作臺、3軸調(diào)整臺等外部設備的應用，增強了該產(chǎn)品的操作性能，同時也真正實現(xiàn)了自動測量。
?安裝了資料分析軟件SURFPAK-SV使用這一軟件
測量軟件功能: SURFPAK-SV
評估輪廓
P (主輪廓), R (表面粗糙度輪廓), WC, WCA, WE, WEA,
DIN4776輪廓、包絡殘余線、粗糙度motif、波形motif
評估參數(shù)
Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi),Sm, HSC, mr, δc, plateau ratio,mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Δa, Δq, λa, λq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1,A2
粗糙度motif參數(shù): Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX,
波形motif參數(shù): Wte, Wx, W, AW SW, SAW, NW
分析圖表
ADC, BAC1, BAC2、功率譜圖、自相關圖、Walsh功率
譜圖、Walsh自相關圖、傾斜分布圖、局部峰值分布圖、
參數(shù)分布圖
濾波類型2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% (相位校正),
2CR-50% (相位校正),高斯-50%
截止波長*
λc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm
取樣長度(L)*
0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
取樣長度
傾斜補償、R平面(曲面)補償、橢圓補償、拋物線補償、
雙曲線補償、二次曲線自動補償、多項式補償、
多項式自動補償
*可在0.025mm至移動長度間指定任意長度。
我公司是一家品管檢測儀器、工具、量具等銷售維修專業(yè)供應商。本著“積極、專業(yè)、誠信、服務”的經(jīng)營理念；遵循“客戶至上，品質(zhì)”的宗旨，為客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務！
公司主要經(jīng)營項目：
儀器儀錶類：
瑞士 （TA）系列品檢儀器，度量儀器；投影儀，工具顯微鏡，影象量測儀，三次元，日本PEAK放大鏡,SK桌上放大燈；臺灣（T）轉(zhuǎn)速機、噪音計、照度計，溫濕度計、溫濕度記錄儀；日本(Analog)推拉力計；扭力測定工具，卡尺，千分尺，百分表，千分表,高度計,各類硬度計，花崗石平臺，德國Byk百格刀，光澤度計；色差儀；標準光源箱、各類顯微鏡；美國(Raytek)測溫儀、日本(EISEN SK )歐美(TEXPERT,DELTRONIC)針規(guī)，（KGS OSG）螺紋栓規(guī)、環(huán)規(guī)，模具,五金電子配件；室設備、磨耗試驗機、離子風機等等。
環(huán)境試驗類：
換氣老化試驗機、可程式恒溫恒濕試驗機、鹽霧試驗機。
銷售對象：電子、塑膠、摸具、機械等加工企業(yè)。用于產(chǎn)品的檢測、測量、試驗等。
公司深入了解客戶需要，以良好的商業(yè)信譽和行業(yè)道德，實用穩(wěn)定的產(chǎn)品、及時周到的服務贏得廣大客戶的信賴，為用戶產(chǎn)品質(zhì)量、獲得更高經(jīng)濟效益，提供的服務。衷心的希望您能成為我們的，更希望能成為您忠實的朋友！
