射頻網(wǎng)絡分析儀HP8753D★頻率范圍30kHz~6GHz★集成化S參數(shù)測試裝置★集成化1Hz分辨率合成信號源★可選用時域測量和掃描諧波測量★達110dB的動態(tài)范圍★可測量群延遲和與線性相位的偏離★對內置磁盤驅動器的存儲/調用★提高內置HP 8753D射頻網(wǎng)絡分析儀    HP 8753D 射頻網(wǎng)絡分析儀以低廉的價格為實驗室和生產測試提供了優(yōu)越的RF網(wǎng)絡測量設備。它具有集成化的S參數(shù)測試裝置，延長了校準間隔期、提高了可靠性并改善了抗靜電放電能力。HP 8753D以比以往其它型號的測試設備更低的價格為分析30kHz~6GHz的有源或無源網(wǎng)絡、器件與元件特性提供了完整的解決途徑。網(wǎng)絡分析儀有2個獨立的顯示通道，供同時顯示反射和傳輸、幅度和相位或供時域和掃頻測量。便于使用的預編程按鍵使你能迅速訪問各個測量功能，你可以在高分辨率彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式觀察測量結果。的通用性和性能    集成化的合成信號源提供達10mW的輸出功率(選件011為100mW)、1Hz頻率分辨率和線性、對數(shù)、列表和連續(xù)波掃描類型。三個調諧接收機允許在6GHz上(利用選件006頻率擴展)，在105dB的寬動態(tài)范圍或在3GHz上在100dB的寬動態(tài)范圍內(標準情況)進行獨立功率測量或同時進行的比值測量。集成化測試裝置允許在不使用倍頻器的情況下，對工作到6GHz的器件進行傳輸和反射特性測量。 為了在非同軸系統(tǒng)中進行方便而的測量，特增加了TRL*/LRM*1校準。高穩(wěn)定度的頻率基準(選件1D5)提高了對高Q器件，如表面波(SAW)諧振腔或介質諧振濾波器的頻率測量。提高效率    測試時序功能允許來迅速、反復執(zhí)行復雜的任務。在時序工作方式下，只需從面板測量，分析儀便能儲存鍵入，以致無需額外編程，還可以利用測試時序經(jīng)并行端口對外部裝置進行控制。另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格式的內置磁盤驅動器、更快的CPU時鐘速率、512kB非易失存儲器、串行和并行接口，DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時間記錄的實時時鐘。還包括極限測試、任意頻率測試和標記跟蹤功能。分段校準和內插誤差修正能提高分析儀已校頻率范圍的某一區(qū)段上的矢量。非線性器件的測試    為了表征非線性器件的特性，選件002增加了諧波測量功能?？梢灾苯踊蛞詃Bc 顯示放大器的掃描、二次和三次諧波電平。按動一個按鈕，即可測量達-40dBc的諧波。功率計校準向對輸入或輸出電平敏感的器件提供穩(wěn)幅的功率。HP8753D自動對HP436A、437B或438A功率計進行控制，使在測試系統(tǒng)中任何處的功率都調到具有功率計的。分析儀還完成混頻器統(tǒng)調和變頻損耗測量。還能進行固定IF和掃描IF測量。時域分析    利用選件010，能觀察在時域中的響應。該分析儀對頻域數(shù)據(jù)的快速傅氏逆變換(FFT)進行計算，以顯示反射系數(shù)或傳輸系數(shù)隨時間變化的關系。兩種時域分析方式能觀察器件的階躍響應或沖擊響應或除去一些不希望的響應，如利用選通來除去接頭失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-傳輸線和傳輸線-反射-匹配校準技術的三取樣器執(zhí)行方式。技術指標摘要測試裝置    集成化S參數(shù)測試裝置以50Ω(標準)或75Ω(選件075)提供完滿的正向和反向測量。外部測試裝置由選件011提供。測試端口輸出頻率特性范圍：30kHz~3GHz(標準)；30kHz~6GHz（選件006）分辨率：1Hz：±10ppm(在25℃±5℃時)輸出特性功率范圍：-85~10dBm分辨率：0.05dB電平：±1.0dB(相對于0dBm輸出電平)電平線性：(-15~+5dBm)±0.2dBm(典型值)30kHz~300kHz；（+5 ~ +10dBm）±0.5dBm(典型值) 30kHz ~ 300kHz阻抗：50Ω二次諧波：在+10dBm處<-25dBc(16MHz ~ 3GHz)三次諧波：在+10dBm處<-25dBc(16MHz ~ 2GHz)非諧波寄生信號(典型值)與混頻器有關的非諧波寄生信號：在+10dBm處<-30dBc測試端口輸入特性頻率范圍：30kHz~3GHz(標準)；30kHz~6GHz(選件006)平均噪聲電平3kHz BW: -82dBm(<3GHz), -77dBm(3 ~ 6GHz)10Hz BW: -102dBm(<3GHz), -97dBm(3 ~ 6GHz)輸入電平：+10dBm損壞電平：±26dBm或35Vdc阻抗：50Ω(用選件075時為75Ω)諧波：(選件002)二次諧波：在+8dBm處為<-15dBc三次諧波：在+8dBm處為<-30dBc諧波測量(在25℃±5℃時)：16MHz ~ 3GHz: ±1dB3GHz ~ 6GHz: ±3dB(帶選件006)諧波測量動態(tài)范圍： -40dBc(輸出=-10dBm，輸入<-15dBm)群延遲特性范圍：1/(2×小孔徑)孔徑(可以選擇的)：頻率間隔的20% 小：(頻率間隔)/(點數(shù)-1)群延遲(單位為秒)：±(相位)(單位為度)/(360×孔徑(Hz))結構特性尺寸：425mm(寬)×222mm(高)×508mm(長)重量：凈重34公斤 專用測試裝置    HP8753D選件K35雙工器測試適配器能對發(fā)射機、接收機和天線端口上的回波損耗和發(fā)射機至天線、天線至發(fā)射機、接收機至天線和天線至接收機端口的插入損耗進行性連接的誤差修正測量。對于要求進行發(fā)射機至接收機和接收機至發(fā)射機測量的應用場合，建議使用選件K39三端口測試裝置。附件HP86205A/86207A射頻電橋    HP86205A/86207A高方向性射頻電橋在各種各樣的通用應用場合中均能提供無與倫比的性能。它們特別適用于的反射測量和信號穩(wěn)幅應用。技術指標摘要  HP86205A HP86207A 阻抗 50Ω 75Ω 頻率范圍 300kHz ~ 6GHz 300kHz ~ 3GHz 方向性 30dB, 0.3MHz ~ 5MHz40dB, 5MHz ~ 2GHz30dB, 2GHz ~ 3GHz20dB, 3GHz ~ 5GHz16dB, 5GHz ~ 6GHz 30dB, 0.3MHz ~ 5MHz40dB, 5MHz ~ 1.3GHz35dB, 1.3GHz ~ 2GHz30dB, 2GHz ~ 3GHz 耦合度 (<3GHz)16.0dB, +0.15dB/GHz(>3GHz)16.5dB, -0.20dB/GHz 插入損耗 1.5dB, +0.1dB/GHz 輸入 25dBm 射頻連接器 50Ω N型(陰) 75ΩN型(陰) 結構特性尺寸：93mm(高)×160mm(寬)×23mm(長)重量：凈重0.57公斤校準配件    HP8753D的校準配件包含在提高過程中使用的一些精密標準件，用以表征HP8753D測量系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差。HP85032B 50Ω N型校準配件    HP85032B校準配件包括用來校準HP8753C的50ΩN型標準件及其用于測量具有50ΩN型接頭器件的50Ω測試裝置的精密50ΩN型標準件。還包括對不可插入器件進行測量的精密相位匹配的7mm轉50ΩN型適配器。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。HP85032E 50Ω N型經(jīng)濟校準配件    HP85032E校準配件包括N型(陽)固定終端負載和一體化的N型(陽)開路器/短路器。這套配件的頻率范圍為DC~6GHz。HP85036B 75Ω N型校準配件    HP85036B 75ΩN型校準配件包括用來校準HP8753C的精密75ΩN型標準件及用于測量具有75ΩN型接頭器件的75Ω測試裝置。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。還包括對不可插入器件進行測量的精密相位匹配的適配器。訂貨信息HP8753D網(wǎng)絡分析儀，30kHz~6GHz集成化網(wǎng)絡分析儀具有內置彩色顯示器，S參數(shù)測試裝置，磁盤驅動器和30kHz~3GHz合成信號源。標準的50Ω型有兩個7mm測試端口。Opt 002 諧波測量功能Opt 006 6GHz頻率擴展Opt 010 時域功能Opt 075 75Ω阻抗Opt 1D5 高穩(wěn)定度頻率基準HP85032B 50ΩN型校準配件 HP85032E 50ΩN型經(jīng)濟校準配件HP85036B 75ΩN型校準配件升級配件HP86205A 50Ω電橋HP86207A 75Ω電橋HP8753DOpt K36 雙工器測試適配器Opt K39三端口測試裝置適配器