- 產(chǎn)品品牌:
- K-MAC科美儀器
- 產(chǎn)品型號:
- ST4080-OSP
波長范圍 420nm ~ 640nm
厚度測量范圍 350 ~ 3
小光斑尺寸 1.35, 0.135
目標面積 864X648 / 86.4X64.8
物鏡轉(zhuǎn)動架 5X(spot size 20), 50X(spot size 0.2)
測量層 1
固定樣臺面積 270mm(L) X 240mm(D)
Z軸再現(xiàn)性 ± 1
自動Z裝置 Z direction Head Movement
Travel range: 50mm
Max. velocity: 50mm/s
特征
Non-destructive OSP thickness measurement
No sample preparation for fast and easy operation
Available to detect OSP coating on Cu with rough surface conditions
Auto-focusing function
3D contours results
- 主要特點
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ST4080-OSP(有機可焊性保護膜)專用于測量PCB/PW板的銅鉑表面的OSP厚度。作為使用分光反射法的非破壞性光學測量儀,它可提供平均厚度和詳細的3D平面輪廓資料,使得實時檢測無需任何的樣品制備。
由于ST4080-OSP具有測量很小面積與自動聚焦功能,適用于PCB基板表面的實模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測量技術(shù),而它在半導(dǎo)體,平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的可靠性得到了證實。
為什么要選擇 ST4080-OSP?
ST4080-OSP使用反射測量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實時測量。
ST4080-OSP 無需樣品制備,可確??焖俸秃啽悴僮?。
ST4080-OSP測量的光斑尺寸可減小到0.135,這使得它可測量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度.
ST4080-OSP 與紫外可見分光計,受迫離子束方法,時序電化學還原分析還有其他的測量方法相比較,它基于更可靠的測量技術(shù)。
ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內(nèi)的多波長光譜。
ST4080-OSP可提供各點和它們的平均厚度的詳細數(shù)據(jù),這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。
ST4080-OSP 通過3D表面形態(tài)學將測量程序優(yōu)化。
- 儀器介紹
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1996年以來,科美在半導(dǎo)體,平板顯示器,電子物質(zhì),生命科學和化學分析上,研發(fā)和提供了獨特的,先進的解決方案??泼?,作為測量和分析技術(shù)市場上的領(lǐng)頭和動力,以它突出的表現(xiàn)得到了世界范圍的認可。