一、產(chǎn)品簡介

 

    XR-806 X射線熒光能譜儀是集成了當(dāng)今世界X射線熒光能譜分析領(lǐng)域的技術(shù)和公司科技人員深厚的理論基礎(chǔ)、豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，為應(yīng)對歐盟 RoHS指令量身定做的一款快速分析儀器，經(jīng)過實(shí)踐中的不斷完善，性能可以滿足電子行業(yè)檢測限用物質(zhì)的要求。整機(jī)結(jié)構(gòu)合理、緊湊，每個(gè)部件都經(jīng)過精心的選擇和設(shè)計(jì)，經(jīng)久耐用，性能，是電子行業(yè)成功應(yīng)對歐盟RoHS指令和《中國電子信息產(chǎn)品污染物管理辦法》的利器。   技術(shù)規(guī)格²        檢測塑膠類樣品和輕質(zhì)金屬材料中的Pb、Cd、Hg、總Br和總Cr檢出限可以5ppm。²        檢測Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊錫中的Pb、Cr等成份檢出限可以100ppm, Cd的檢出限可以20ppm。 儀器配置²        儀器部件采用美國Amptek公司生產(chǎn)的X-123系統(tǒng)，集成了Si-PIN高分辨率半導(dǎo)體X射線探測器、放大和整形電路、數(shù)字脈沖處理器以及脈沖高度分析器即MCA，限度地發(fā)揮探測器的性能。²         X射線管高壓發(fā)生器采用美國Spellman公司生產(chǎn)的50W高壓電源，性能指標(biāo)，為儀器的長期運(yùn)行提供了保障。²        采用廠家生產(chǎn)的薄鈹窗X射線管，功率達(dá)50W，化封裝，輻射和各項(xiàng)性能指標(biāo)滿足應(yīng)用要求。²        配置多種經(jīng)過精心設(shè)計(jì)的濾光片，使得XR-306型X射線熒光能譜儀不分析塑膠材料中的有害物質(zhì)時(shí)可以高的，同時(shí)，分析金屬材料中的Pb和Cd等有害物質(zhì)也可以很好的。²        濾光片自動(dòng)轉(zhuǎn)換讓操作人員無需掌握深入的理論即可進(jìn)行準(zhǔn)確的測量。²        推拉式開蓋方式結(jié)合開放式樣品腔設(shè)計(jì)地解決了樣品的檢測問題，做到小樣品測試方便，大樣品測試只要按系統(tǒng)提示操作同樣能操作人員。²        精心設(shè)計(jì)的應(yīng)用程序不可以使用戶方便準(zhǔn)確的檢測，還提供漂亮的檢測，對用戶開放格式定 制功能，無論何種格式的都可以準(zhǔn)確定制。此外還提供了數(shù)據(jù)輸出到Excel表格的功能，方便用戶進(jìn)行 統(tǒng)計(jì)分析。²        高清晰度攝像頭的設(shè)置不使檢測圖文并茂，結(jié)合所配備的多孔經(jīng)準(zhǔn)直器還可以對不均勻樣品進(jìn)行定點(diǎn)檢測。Ø        開放式的軟件設(shè)計(jì)，出廠前已配置了常用材料的分析方法，用戶經(jīng)過培訓(xùn)以后也可以建立自己的分析方法，拓展儀器的使用范圍，如其他微量元素的分析和鍍層測厚。 XR-806產(chǎn)品參數(shù)

儀器型號	XR-806
分析原理	能量色散X射線熒光分析法
分析元素范圍	Na(11)-U(92)任意元素
檢出下限	Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm
樣品形狀	任意大小，任何不規(guī)則形狀
樣品類型	塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等
X射線管	靶材	鉬（Mo）靶
管電壓	5─50KV
管電流	1─1000ｕA
樣品照射直徑	2、5、8mm
探測器	美國Si-PIN探測器，脈沖高度分析系統(tǒng)
高壓發(fā)生器	美國SPELLMAN高壓發(fā)生器
前置放大器	美國前置放大器，與美國探測器兼容性好
主放大器	美國主放大器，與美國探測器兼容性好
AD轉(zhuǎn)換模塊	美國AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國探測器兼容性好
ADC	2048道
濾光片	6種濾光片自動(dòng)選擇并自動(dòng)轉(zhuǎn)換
樣品定位	微動(dòng)載物平臺（選配件）
樣品觀察	130倍彩色CCD攝像機(jī)
微區(qū)分析	X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配件）
分析軟件	軟件產(chǎn)品 BX-V1.5版本，升級
分析方法	理論α系數(shù)法、基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
操作系統(tǒng)軟件	WINDOWS XP（正版）
數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)	主機(jī)	PC商務(wù)機(jī)型
CPU	≥2.8G
內(nèi)存	≥512
光驅(qū)	8xDVD
硬盤	≥80G
顯示器	17寸液晶顯示器
工作環(huán)境	溫度10－35С，濕度30－70％RH
重量	60Kg（主機(jī)部分）
外形尺寸	550（W）×450(D)×450(H)mm
外部供電電源要求	AC220&plun;10%、50/60Hz
測定條件	大氣環(huán)境
測試樣品時(shí)間	100－300秒可調(diào)

 三、XR-806系列特點(diǎn)Ø       “七.五”與“九.五”熒光分析儀科技攻關(guān)的成果；Ø       的理論α系數(shù)法分析方法，國內(nèi)；Ø       直接生成人性化分析，也可在分析軟件中定制各種風(fēng)格的分析；Ø       全封閉鉛板雙迷宮措施，合標(biāo)準(zhǔn)；Ø       可以分析Na-U的元素（需相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)樣品）；Ø       無需制樣，快速分析；Ø       主要部件，穩(wěn)定性好、分析高、故障率低；Ø       國產(chǎn)側(cè)窗型X光管，性能穩(wěn)定，壽命長（5年）更換成本低；Ø       全中文操作分析軟件，對操作人員要求不高；Ø       大的分析管理軟件，方便查詢歷史數(shù)據(jù)；Ø       自動(dòng)轉(zhuǎn)換濾光片系統(tǒng)，國內(nèi)；Ø       分析不同類型樣品參數(shù)自動(dòng)設(shè)定，無需人員操作；Ø       130倍彩色CCD攝像機(jī)可監(jiān)控樣品測量位置；Ø       的微動(dòng)載物平臺可以微調(diào)樣品測量點(diǎn)（選配）；Ø       的X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)可以分析電子元器件微小部位（選配）；Ø       美國電制冷探測器，無需添加液氮，操作維護(hù)簡單。Ø       可測量涂鍍層厚度。 四、儀器硬件部分 

4．1美國AMP-TEK Si(PIN)半導(dǎo)體制冷探測器

探測器的分辨率是評價(jià)能量色散X熒光光譜儀性能的主要指標(biāo)之一 分辨率    <  145eV (分辨率越低則靈敏度越高)計(jì)數(shù)率    >  3000/S晶體面積  >  15平方毫米鈹窗厚度  =  0.025mm探測功率  <  1.2W 4．2、美國AMP-TEK DP40多道脈沖幅度分析器（俗稱譜儀能量刻度）通道數(shù)    2048道 4．3、美國AMP-TEK P-3電源控制器系統(tǒng)電源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制  400 VDC 

4．4、低功率小型側(cè)窗X射線發(fā)生器（俗稱X光管

經(jīng)過處理X光管可對2英寸的0.25mR/hr 的射線進(jìn)行屏蔽, 罐緣油用于高壓緣和冷卻， 0.005英寸鈹窗標(biāo)準(zhǔn)窗口，額定功耗為50瓦、額定電壓為50千伏。<設(shè)計(jì)使用壽命>15000小時(shí)。 4．5、美國SPELLMAN高壓發(fā)生器

輸      入:  85～265Vac,47～63Hz,功率因數(shù)校正。1kV～5kV的型號合UL85～250Vac輸入標(biāo)準(zhǔn)電壓變動(dòng)率:  無負(fù)載到滿負(fù)載，輸出電壓的0.01%電流變動(dòng)率:  0～額定電壓，輸出電流的0.01%紋      波:  輸出電壓的0.25%峰-峰溫 度系 數(shù):  電壓或電流調(diào)定，0.01%/℃穩(wěn)   定 性:  預(yù)熱半小時(shí)后，0.05%/8小時(shí) 4．6、濾光片自動(dòng)轉(zhuǎn)換系統(tǒng)4．7系統(tǒng)1、重新設(shè)計(jì)的低輻射X射線管經(jīng)過處理（從源頭做起）2、全封閉鉛板雙層迷宮輻設(shè)計(jì)（從設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)做起）3、全自動(dòng)鉛板濾光片自動(dòng)屏蔽裝置4、艙門意外開啟X射線強(qiáng)制中斷裝置  5、測試與X射線警示系統(tǒng)6、X射線劑量儀出貨檢測并接受監(jiān)督 4．8、儀器外圍配套設(shè)備HP 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)CPU P4 3.0內(nèi)存    512 光驅(qū)    8X DVD硬盤    80G   顯示器  17寸液晶顯示器Windows XP操作系統(tǒng)HP 彩色噴墨打印機(jī)