用途：
該X射線晶體分析儀，主要用于研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)。如：單晶定向、檢驗(yàn)缺陷、物質(zhì)定性、測定點(diǎn)陣參數(shù)、測定殘余應(yīng)力等。
主要參數(shù)：
電 源：AC220V 50HZ 30A
功 率：2KW
靶 材：Cu（可選其他靶材）
管電壓：50KV（分檔可調(diào)）
管電流：50mA（分檔可調(diào)）
穩(wěn)定度：&plun;1%
保 護(hù)：過功率、過電壓、過電流、無水
冷 卻：循環(huán)水、制冷水箱
護(hù)：鉛玻璃護(hù)罩
相 機(jī)：
a)德拜相機(jī)（粉沫相機(jī)）大、小兩種
b)勞厄相機(jī)（平板相機(jī)）
上述兩種相機(jī)，用戶可自選配置
尺 寸：長1000mm×寬780mm×高1050mm
（加護(hù)罩1800mm）
重 量：320公斤
水 泵：長800mm×寬500mm×高700mm
設(shè)備自驗(yàn)收之日起，保修一年，保修期內(nèi)在正常使用的情況下，因制造質(zhì)量等原因出現(xiàn)故障，在接到通知后3天內(nèi)趕赴現(xiàn)場及時修理。在過保修期一年后，設(shè)備如出現(xiàn)故障時，乙方負(fù)責(zé)修理，只收元器件費(fèi)。
