規(guī)格
型號
SV-C3200S4
(525-481-1/-2)
SV-C3200H4
(525-482-1/-2)
SV-C3200W4
(525-483-1/-2)
SV-C3200S8
(525-486-1/-2)
SV-C3200H8
(525-487-1/-2)
SV-C3200W8
(525-488-1/-2)
SV-C4500S4
(525-441-1/-2)
SV-C4500H4
(525-442-1/-2)
SV-C4500W4
(525-443-1/-2)
SV-C4500S8
(525-446-1/-2)
SV-C4500H8
(525-447-1/-2)
SV-C4500W8
(525-448-1/-2)
測量表面粗糙度時
測量范圍
X 軸 (檢測部) 100mm 200mm
Z1 軸 (檢測部) 800μm / 80μm / 8μm
直線度(0.05+L/1000)μm　L 驅(qū)動長度(mm) 0.5μm / 200mm
分辨率Z1 軸 (檢測部) 0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
測力0.75mN (機身代碼末尾帶「-1」的機型) / 4mN (機身代碼末尾帶「-2」的機型)
測針針尖形狀60o, 2μmR (機身代碼末尾帶「-1」的機型) / 90o, 5μmR (機身代碼末尾帶「-2」的機型)
對應尺寸JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA
參數(shù)
Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P??q, Pm(rC), Pmr, P??c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, R??q, Rm(rC),
Rmr, R??c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W??q, Wm(rC), Wmr, W??c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1,
A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, ??a, ??a, ??q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR,
SAR, NW, SW, SAW
評價曲線
斷面曲線、粗糙度曲線、濾波波紋曲線、波紋曲線、滾動圓波形截面曲線、滾動圓波形曲線、包絡殘余線、
DF 曲線（DIN4776 / ISO13565-1）、表面粗糙度MOTIF (包絡波紋曲線在評價MOTIF 時顯示。)
分析圖
負荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關、頂峰分布、傾斜角分布、
參數(shù)分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的分析)
曲線校正小平方直線、R 面校正、橢圓校正、拋物線校正、雙曲線校正、二次曲線校正、多項式校正(自動或任意2~7 次)、無校正
濾波器高斯濾波器、2CRPC75、 2CRPC50、 2CR75、 2CR50、準樣條濾波器
測量輪廓形狀時
測量范圍
X 軸(檢測部) 100mm 200mm
Z1 軸(檢測部) 60mm (測臂水平位置±30mm)
直線度0.8μm / 100mm 2μm / 200mm
指示
X 軸(檢測部) ±(0.8+0.01L)μm　L 驅(qū)動長度(mm) ±(0.8+0.02L)μm　L 驅(qū)動長度(mm)
Z1 軸(檢測部) SV-C3200 系列 : ±(1.6+ ?? 2H ?? /100)μm, SV-C4500 系列 : ±(0.8+ ?? 2H ?? /100)μm　H : 為水平位置上的測量高度(mm)
分辨率
X 軸(檢測部) 0.05μm
Z1 軸(檢測部) SV-C3200 系列 : 0.04μm, SV-C4500 系列 : 0.02μm
Z2 軸(立柱) 1μm
測力SV-C3200 系列 : 30mN (根據(jù)重量調(diào)整), SV-C4500 系列 : 10, 20, 30, 40, 50mN (根據(jù)軟件轉(zhuǎn)換)
測針方向SV-C3200 系列 : 向上/ 向下(單獨測量), SV-C4500 系列 : 向上/ 向下(上下可連續(xù)測量)
通用時
Z2 軸(立柱) 移動量300mm 500mm 300mm 500mm
X 軸傾斜角度±45o
驅(qū)動速度
X 軸0 ～ 80mm/s 外加手動
Z2 軸(立柱) 0 ～ 30mm/s 外加手動