- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
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時(shí)代TT230數(shù)字式涂層測(cè)厚儀|時(shí)代集團(tuán)渦流測(cè)厚儀TT230
時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀本儀器是一種超小型的測(cè)量?jī)x。時(shí)代涂層測(cè)厚儀TT230它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。TT230涂鍍層測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該TT230涂層測(cè)厚儀儀器體積小，測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
時(shí)代TT230數(shù)字式涂層測(cè)厚儀|時(shí)代集團(tuán)渦流測(cè)厚儀TT230
時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀本儀器是一種超小型的測(cè)量?jī)x。時(shí)代涂層測(cè)厚儀TT230它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。TT230涂鍍層測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該TT230涂層測(cè)厚儀儀器體積小，測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀的主要功能
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)。
可對(duì)測(cè)頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)。
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）?？纱尜A和統(tǒng)計(jì)計(jì)算15個(gè)測(cè)量值。
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）。
自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量。
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯(cuò)誤提示功能。
時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀的主要技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量原理：渦流法
測(cè)量范圍：1～1250μm
測(cè)量：±（3%H+1.5）μm（零點(diǎn)校準(zhǔn)）
±[(1～3)%H+1.5] μm（二點(diǎn)校準(zhǔn)）
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讓您買(mǎi)的放心用的安心！
Portable Coating Thickness Gauges Model TT220 & TT230
- TT220 magnetic induction measuring principle
- TT230 eddy current measuring principle
- Measuring modes: Single/continuous
- Memory modes: Direct/batch
- Onboard memory: 15
- Automatic calculation: Mean/Max/Min/No./S.DEV
- Error detect ability: Buzz & display
- Micro printer: Can be installed
- Automatic shut-off
- Operating temperature: 32°F-113°F(0°C-45°C)
- Power source: 2 x 3.6V(NiMH batteries)
- Weight: 0.26lb (120g)
- Dimensions: 150 x 53 x 22mm
Applied Materials
| Gauge Model | Probe Type | Material of Coatings | Material of substrates |
| TT220 | Ferrous | Non-magnetic | Magnetic |
| TT230 | Non-ferrous | Insulating | Non-magnetic metal |
Specifications of TT220 & TT230
| Gauge Model | Measure range (μm) | Resolution (μm) | Tolerance (μm) | Min curvature radius (mm) | Min measure area (mm) | Critical substrate thickness (mm) | ||
| 1 point calibration | 2 point calibration | convex | concave | |||||
| TT220 | 0-1250 | 1 | ±(3%H+1) | ±[(1~3)%H+1] | 1.5 | 9 | Ф7 | 0.5 |
| TT230 | 0-1250 | 1 | ±(3%H+1) | ±[(1~3)%H+1] | 1.5 | 9 | Ф7 | 0.5 |
