操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)的詳細(xì)信息

本機(jī)器可模擬Notebook、手機(jī)、PDA各種動(dòng)作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用后，各種零件的耐久狀況。由計(jì)算機(jī)設(shè)定測(cè)試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作，一臺(tái)計(jì)算機(jī)同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器。 Notebook測(cè)試規(guī)格: 磁盤(pán)片插入、退出試驗(yàn)。 光驅(qū)插入、退出試驗(yàn)。 PCMCIA插入、退出試驗(yàn)。 電池插入、退出試驗(yàn)。 各種接頭插入、退出試驗(yàn)(PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等)。 桌面放落試驗(yàn) 。   手機(jī)測(cè)試規(guī)格 ： 天線彎曲試驗(yàn)。 天線上、下抽取試驗(yàn)。 電池插入、拔出試驗(yàn)。連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。 ON、OFF開(kāi)關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。 上蓋打開(kāi)、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。短距離落下壽命試驗(yàn)。 SIM卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。   PDA測(cè)試規(guī)格 ： CF卡插拔耐久試驗(yàn)。 Battery蓋插、拔耐久試驗(yàn)。 DC插頭耐久試驗(yàn)。 連接器插、拔耐久試驗(yàn)。 筆插拔耐久試驗(yàn)。 觸控屏幕摩擦耐久試驗(yàn)。 ON、OFF開(kāi)關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。