- 品牌/商標(biāo)：上海精科分析儀器廠
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：上海
上海精科UV752N紫外可見分光光度計通過2011-2013年度紫外可見分光光度計3年期產(chǎn)品質(zhì)量國家監(jiān)督抽查首年檢測. 基本原理： ● 分光光度計分析法是基于不同分子結(jié)構(gòu)的物質(zhì)對電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。 ● 應(yīng)用電磁輻射波譜區(qū)通常在200nm～1000nm為紫外可見分光光度計。 ● 采用微處理機控制技術(shù)，在紫外可見光譜區(qū)域內(nèi)對物質(zhì)作定性、定量分析，是常規(guī)實驗室必備的多用途分析儀器。通過2011-2013年度紫外可見分光光度計3年期產(chǎn)品質(zhì)量國家監(jiān)督抽查首年檢測.
技術(shù)參數(shù)：
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長允許誤差：±2nm
● 波長重復(fù)性：≤1nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光：≤0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩(wěn)定性: 暗電流漂移：0.2%(T)/3min 亮電流漂移：0.5%(T)/3min
上海精科UV752N紫外可見分光光度計如果您對本產(chǎn)品價格、圖片、參數(shù)、售后等有任何疑問歡迎致電咨詢：王斌,！
技術(shù)參數(shù)：
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長允許誤差：±2nm
● 波長重復(fù)性：≤1nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光：≤0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩(wěn)定性: 暗電流漂移：0.2%(T)/3min 亮電流漂移：0.5%(T)/3min
上海精科UV752N紫外可見分光光度計如果您對本產(chǎn)品價格、圖片、參數(shù)、售后等有任何疑問歡迎致電咨詢：王斌,！
