產(chǎn)品品牌：

益和Microtest

產(chǎn)品型號：

CT-8685

CT-3000(128,256,512,1024)系列導(dǎo)通測試儀采用高速微處理器控制,及新現(xiàn)代化的軟硬件設(shè)計(jì)而成,主要特點(diǎn)有: 1) 全部采用貼片式電子元器件,具有功耗低,體積小,重量輕,可靠性高； 2) 存儲(chǔ)器采用NOR FLASH閃存記憶體,無壞塊保證了數(shù)據(jù)的安全，且體積小,容量大(可存儲(chǔ)128組測試數(shù)據(jù))，不須使用備用電池,資料保存永不丟失； 3) 采用320*240圖型液晶顯示器,具有顯示范圍大,信息多的優(yōu)點(diǎn)； 4) 全中文操作介面, 九個(gè)快捷功能鍵（測試、搜索、學(xué)習(xí)、通訊、文檔、模式、自檢、設(shè)置、記錄清除），可以方便快速的在各個(gè)功能之間切換；方便操作人員使用,信息一目了然； 5) 可設(shè)置長達(dá)20位的文件名，方便資料管理； 6) 可設(shè)置密碼、機(jī)器編號，方便設(shè)備管理； 7) 通過USB接口與PC通信,速度快、上傳或資料方便,交互性強(qiáng)； 8) PC端軟件功能強(qiáng)大，配合測試機(jī)使用可大大降低編程人員的工作量，完全避免資料編輯及資料傳輸過程中可能出現(xiàn)的風(fēng)險(xiǎn)； 9) 功能強(qiáng),除具有一般導(dǎo)通測試儀之功能外,還具備下列特殊功能: a. 多種測試模式 1. 循環(huán)測試模式 正常測試方式,采用全程時(shí)時(shí)重復(fù)掃描方式. 2. 累加測試模式 在治具試制階段或治具按觸不良的情況下,請選擇累加測試.這個(gè)功能可逐點(diǎn)逐組探測,實(shí)時(shí)顯示丟失點(diǎn)數(shù)及坐標(biāo)，等待全部測試完成后PASS通過. 3. 觸點(diǎn)測試模式 在治具按觸不良的情況下，請選擇觸點(diǎn)測試； 4．多路測試模式 可循序測試多路（單路分別采用循環(huán)測試模式）； 5．網(wǎng)絡(luò)測試模式 適用于網(wǎng)絡(luò)化管理 ,測試結(jié)果通過以太網(wǎng)傳輸?shù)胶笈_(tái)進(jìn)行分析和統(tǒng)計(jì)（采用循環(huán)測試模式）. b.   異常點(diǎn)擴(kuò)展信息顯示功能 通過編輯可分別對被測點(diǎn)添加附加信息,例如此線所在的區(qū)域,線色和所屬的接插件名稱,這樣出現(xiàn)異常時(shí),可迅速找出異常位置.    *c. 可升級全部導(dǎo)通測試機(jī)通過以太網(wǎng)聯(lián)接,由后臺(tái)服務(wù)器統(tǒng)計(jì)和管理生產(chǎn)任務(wù).