3250變壓器綜合測試儀測試頻率20Hz~200KHz，度0.02%基本量測準確度：0.1%3種阻抗輸出模式選擇，測量結(jié)果可與各之LCR表完全對比增強式圈數(shù)比準確測量，適用于低磁道率的磁芯。提供各種標(biāo)準測試治具及特殊治具訂制四端測試治具，可得到DCR，電感量和圈數(shù)比穩(wěn)定的測量。內(nèi)建式比較器，10級分類及計數(shù)功能（僅適于3252/3302）2M SRAM記憶卡供機臺資料設(shè)定及備份標(biāo)準RS~232，HANDLER及PRINER界面50組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲存及呼叫。測試參數(shù) 圈數(shù)比（TURN RATIO），相位（PHASE），圈數(shù)（TURN），電感（L）品質(zhì)因子（Q），漏電感（LK），平衡（BALANCE），交流電阻（ACR）電容（CP），直流電阻（DCR），接腳短路（PIN SHORT）測試電壓 10mV-10V，10mV/STEP測試頻率 20Hz~200KHz型號3250 , 3252，3202主要功能變壓器掃描測試測試參數(shù)變壓器掃描測試圈數(shù)比(Turn Ratio)，相位(Phase)，圈數(shù)(Turn)，電感(L)，品質(zhì)因子(Q)，漏電感(LK ),平衡(Balance),交流電阻(ACR),電容(Cp),直流電阻(DCR),接腳短路 (Pin Short)測試信號測試電壓Turn10 mV～10 V，±10%，10mV/step其它10 mV～2 V，±10%，10mV/step測試頻率Turn3200，3202，3250 , 3252 ：1 kHz ～200 kHz，±0.02%3300 , 3302 ：1 kHz ～1 MHz，± 0.02%分辨率:0.01 Hz其它3200/3202/3250,3252 ：20Hz ～200kHz，±0.02%3300,3302 ：20Hz～1MHz，±0.02%分辨率:0.001Hz (<1 kHz )輸出阻抗Turn10Ω, 當(dāng)測試位準點2V 50Ω, 當(dāng)測試位準>2 V其它Constant=OFF：依電阻範(fàn)圍不同而定Constant=320X:100Ω 0.5%Constant=107X:25Ω 0.5%Constant=106X:100mA±5%(1V設(shè)定)，電感負載小於10Ω，10Ω 10%，阻抗點10Ω以上適用於 325X 系列Constant=OFF：依電阻範(fàn)圍不同而定Constant=320X:100 Ω 0 5%以上適用於320X系列測量顯示範(fàn)圍L,LK0.00001uH ～ 9999.99HC0.00001pF ～ 999.999mFQ,D0.00001 ～ 99999Z,X,R0.00001 Ω ～ 99.9999M ΩY0.01nS ～ 99.9999 Sθ-90.00 。 ～ 90.00 。DCR0.01m Ω‘ 0 99.999M ΩTurn0.01 ～ 99999.99 圈 ( 次電壓小於 100 Vrms )Pin-Short11 組 , 接腳與接腳之間 ,基本準確度L,LK,C,Z,X,Y,R,DCR0.1%(若為AC參數(shù)1kHz )Q,D0.0005(1kHz )θ0.03 °(1kHz )Turn0.5%(1kHz )量測速度(快速)L , LK , C ,Z , X , Y ,R ,Q ,D , θ80 meas./sec .DCR50 meas./sec .Turn10 meas./sec .判定方式變壓器掃描測試各測試參數(shù)之良品/不良品判定由選購之處理器 接口輸出顯示器320×240點矩陣 LCD 液晶顯示器修正功能開路 (Open )/短路(Short)歸零，負載修正內(nèi)存15 組儀器設(shè)定，可藉由記憶卡擴充等效電路模式串聯(lián)，並聯(lián)觸發(fā)內(nèi)部，手動，外部一般規(guī)格 環(huán)境條件溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃ 溼度： 10%～90% RH消耗功率 140 VA電源需求90 ～ 125Vac 或 190 ～ 250Vac 48 Hz ～62 Hz重量約 9 kg尺寸（寬×高×深）430 × 180 × 320 mm以上是3250測試儀的詳細信息，如果您對3250測試儀的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取3250測試儀的新信息。