Contour GT系統(tǒng)利用白光干涉來測量納米級至的表面形貌，并且具有業(yè)界視場下的垂直分辨率。儀器具備多種倍率物鏡（1.25倍-100倍）.....可以表征具有不同表面形狀和結(jié)構(gòu)的樣品;而且在任何放大倍數(shù)下，系統(tǒng)的縱向范圍夠亞-埃至毫米級，其靈;Bruker技術(shù)-高亮LED雙光源照明-使測量結(jié)果不管在科研還是工業(yè)環(huán)境中都具有的性和可重復(fù)性。Contour GT系列擁有同類產(chǎn)品的易用性：簡潔的操作界面通過對測量和數(shù)據(jù)獲取過程的簡化大大了系統(tǒng)和人力效率；的可視工作流程工具提供了直觀的分析選項(xiàng); Contour GT系列光學(xué)輪廓儀可廣泛的應(yīng)用于：精密機(jī)械，光伏材料，電子材料，航空航天，光學(xué)材料和器械等領(lǐng)域..
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