SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀價(jià)格:4800元
SGW X-4A 顯微熔點(diǎn)儀 應(yīng)用范圍
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于、化工、紡織、染料等晶體化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
SGW X-4A 顯微熔點(diǎn)儀 性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
小讀數(shù):0.1℃
測(cè)量重復(fù)性:
±1℃(在<200℃時(shí))
±2℃(在200~300℃時(shí))
光學(xué)放大倍數(shù):
目鏡10X
物境4X