品牌 | ED |
平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高的平面件,例如,平面光學(xué)件、平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
咨詢電話SERVICE LINE
0574-65539830
13095956698
掃一掃
進入手機店鋪
掃一掃
進入手機店鋪
品牌 | ED |
平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高的平面件,例如,平面光學(xué)件、平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。